JDS-1立式接觸式干涉儀
上海雙旭JDS-1立式接觸式干涉儀產(chǎn)品概述
JDS-1立式接觸式干涉儀是專為精密光學測量設計的儀器，采用立式結構布局，適用于實驗室和生產(chǎn)現(xiàn)場的高精度長度測量需求。儀器核心部件采用優(yōu)質光學玻璃材質，配合穩(wěn)定的機械結構設計，確保測量過程的可靠性和重復性。
主要技術特點
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測量系統(tǒng)：基于邁克爾遜干涉原理，配備高穩(wěn)定性激光光源，可實現(xiàn)納米級分辨率的位移測量。測量范圍可根據(jù)實際需求進行靈活調整。
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機械結構：采用立柱式承載設計，配備精密導軌和阻尼系統(tǒng)，有效減少環(huán)境振動對測量結果的影響。工作臺承重能力經(jīng)過優(yōu)化設計，可適配多種被測工件。
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操作界面：集成數(shù)字化顯示單元，實時顯示測量數(shù)據(jù)和干涉條紋狀態(tài)。操作面板布局符合人體工程學，便于技術人員快速掌握操作方法。
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環(huán)境適應性：內置溫度補償模塊，能夠根據(jù)環(huán)境變化自動校正測量結果，保證在不同工況下的測量一致性。
典型應用場景
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精密機械加工件的尺寸檢測
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光學元件的面形精度測量
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精密量具的校準驗證
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科研院所的教學演示設備
維護與保養(yǎng)
儀器配備防塵保護罩，建議定期清潔光學元件表面。長期不使用時，應存放在干燥潔凈的環(huán)境中。設備提供詳細的操作手冊，包含日常維護的具體指導。
該儀器體現(xiàn)了上海雙旭在光學測量領域的技術積累，適合對測量精度有較高要求的應用場合。
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